納米粒度儀zeta電位分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射（DLS）原理來獲得范圍在0.3nm到6um的膠體體系粒度的分布。DLS是通過一束具有一定波長的動(dòng)態(tài)激光束照射在懸浮于樣品溶液的粒子上面。這些相干光會(huì)從粒子上彈出而發(fā)生準(zhǔn)彈性散射，在某一個(gè)時(shí)間段被檢測器探測到這些散射光強(qiáng)。粒子在樣品體系里做無規(guī)則的布朗運(yùn)動(dòng)，光以一定的入射角度照在粒子上，隨后發(fā)生散射，產(chǎn)生波動(dòng)的光強(qiáng)度被探測器檢出。用自相關(guān)器來分析這些波動(dòng)的變化可以獲得樣品粒子的分布情況。
 

　　大顆粒運(yùn)動(dòng)緩慢，小粒子運(yùn)動(dòng)速度快，波動(dòng)頻率如左圖，如果測量大顆粒，那么由于它們運(yùn)動(dòng)緩慢，散射光斑的強(qiáng)度也將緩慢波動(dòng)。類似地，如果測量小粒子，由于它們運(yùn)動(dòng)速度快，散射光斑的波動(dòng)頻率也快。通過大顆粒和小粒子的相關(guān)關(guān)系函數(shù)?？梢缘玫?，相關(guān)關(guān)系函數(shù)衰減的速度與粒徑大小相關(guān)，小粒子的衰減速度遠(yuǎn)大于大顆粒的。通過光強(qiáng)波動(dòng)變化和光強(qiáng)相關(guān)函數(shù)計(jì)算出粒徑及其分布（Stokes-Einstein方程）。
 

　　Zeta電位為在滑動(dòng)層上固體表面與液相之間電勢的衰減。電解質(zhì)流動(dòng)的外部力平行應(yīng)用于固體與液體界面導(dǎo)致固定層與可移動(dòng)層之間相對(duì)運(yùn)動(dòng)與電荷分離，由此得出實(shí)驗(yàn)的Zeta電位。流動(dòng)電勢的大小由液相的流動(dòng)壓差P決定。Zeta電位即可定義為固體表面的固定層電荷與離子移動(dòng)層之間的電勢，相應(yīng)的流動(dòng)電勢系數(shù)為dU/dP。
 

　　納米粒度儀zeta電位分析儀注意事項(xiàng)：

　　1、若要進(jìn)行酸堿滴定測等電點(diǎn)或測PH值，則每次實(shí)驗(yàn)前須校正PH探針；若要測試溶液電導(dǎo)率，則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次；

　　2、每次更換樣品物需清洗主探頭、PH探針以及容器，要擦干，以免前面殘留粉末影向?qū)嶒?yàn)結(jié)果；

　　3、實(shí)驗(yàn)結(jié)東后要清洗主探頭、PH琛針和容器，并將PH探針放回酸性沖液中；

　　4、若進(jìn)行酸碔滴定則每次關(guān)機(jī)前需將酸堿滴定管凊洗3～5次。